采用多层腔体结构,配合旋转式刷头、二流体、兆声及多种药液,可以有效去除晶圆上的物理颗粒及金属离子残留,主要用于晶圆制造的最终清洗、CMP后清洗、扩散前清洗、刻蚀后清洗、标准RCA、去胶清洗、镀膜前后清洗等。
✨ 可兼容多种规格晶圆
✨ 具备刷头自清洁功能
✨ 腔体分层可做到4层,可实现3种药液的回收
✨ 独立翻转模块,可实现晶圆正反面自动翻转并清洗
✨ 在线式药液配比功能
✨ 腔室数量2/4/6/8可灵活配置
✨ 多种安全检测,不易产生碎片
适用制程 | Wafer Clean,Etch,PR Strip |
适用尺寸 | 4&6inch,6&8inch,8&12inch |
上料类型 | Open Cassette ,FOUP,SMIF ,EFEM |
化 学 品 | DIO3/SC1/SC2/DHF/HNO3/NMP/IPA |
颗 粒 物 | ≤30ea @0.2μm |
金属离子残留 | ≤1E10 atoms/cm² |
破 片 率 | ≤0.1‰ |